logo
ยินดีต้อนรับ Unicomp Technology
+86-13502802495
ไม่พบ
โอ๊ป สายหน้าไม่พบ
ขออภัย ไม่พบหน้าที่คุณกำลังมองหา อาจถูกลบ เปลี่ยนชื่อ หรือไม่พร้อมใช้งานชั่วคราว
กลับไปหน้าแรก
คุณอาจสนใจ
คุณภาพ เครื่องตรวจสอบเอ็กซ์เรย์ NDT อัตโนมัติ Unicomp AX9100MAX สำหรับการตรวจสอบช่องว่างของตัวเชื่อมต่อ โรงงาน

เครื่องตรวจสอบเอ็กซ์เรย์ NDT อัตโนมัติ Unicomp AX9100MAX สำหรับการตรวจสอบช่องว่างของตัวเชื่อมต่อ

The Unicomp AX9100MAX is an automatic NDT X-ray inspection machine engineered for high-precision connector voids inspection and advanced non-destructive testing. Featuring an off-line programming system and micro-focus 2D/2.5D imaging technology, it delivers reliable inspection of laptop battery ...
คุณภาพ Unicomp ออฟไลน์ไมโครโฟกัสสูง 130kV เครื่อง Xray AX9100 สำหรับ SMT PCBA CPU IC การตรวจสอบคุณภาพการบัดกรี โรงงาน

Unicomp ออฟไลน์ไมโครโฟกัสสูง 130kV เครื่อง Xray AX9100 สำหรับ SMT PCBA CPU IC การตรวจสอบคุณภาพการบัดกรี

Unicomp ออฟไลน์ไมโครโฟกัสกระแสไฟฟ้าสูง 130kV เครื่อง Xray AX9100 สําหรับ SMT PCBA CPU IC การตรวจสอบคุณภาพการผสม ลักษณะ: ●ท่อรังสี 130KV 7μm ● ความเร็วสูง & พิกเซลล้าน FPD ความละเอียดสูง ● การขยายขนาดทางกณิตศาสตร์ 44.7X ภาพความละเอียดสูงในเวลาจริง ● การทํางานด้วยปุ่มเดียว พร้อมจอภาพ 2.5 มิติ ●ฟังก์ชั...
คุณภาพ เครื่องสแกนอาหารความละเอียดสูง Unicomp UNX4015N ตรวจจับแก้วเซรามิคภายในพิซซ่าเนื้อเตรียมอาหารแช่แข็ง โรงงาน

เครื่องสแกนอาหารความละเอียดสูง Unicomp UNX4015N ตรวจจับแก้วเซรามิคภายในพิซซ่าเนื้อเตรียมอาหารแช่แข็ง

เครื่องสแกนอาหารความละเอียดสูง Unicomp UNX4015N ตรวจจับแก้วเซรามิกภายในเนื้อวัว พิซซ่า อาหารแช่แข็งสำเร็จรูป รายละเอียดสินค้า: เทคโนโลยี X-ray ล้ำสมัยของเราสำหรับการตรวจจับสิ่งปนเปื้อนในอาหารบรรจุภัณฑ์ได้ปฏิวัติมาตรการประกันคุณภาพ ครอบคลุมผลิตภัณฑ์หลากหลายตั้งแต่ อาหารสำเร็จรูปและอาหารแช่แข็ง ไปจนถึ...
คุณภาพ AX8300MAX Unicomp 110KV การเอ็กซเรย์ตรวจสอบสิ่งปลอมปนสำหรับการปรับความสูงระยะทางแบบยืดหยุ่น PTH โรงงาน

AX8300MAX Unicomp 110KV การเอ็กซเรย์ตรวจสอบสิ่งปลอมปนสำหรับการปรับความสูงระยะทางแบบยืดหยุ่น PTH

ระบบตรวจสอบรังสีเอกซ์ AX8300MAX Unicomp 110KV ระบบตรวจสอบรังสีเอกซ์ขั้นสูงพร้อม Unicomp Auto Void Analysis สำหรับการทดสอบเซมิคอนดักเตอร์และอิเล็กทรอนิกส์ที่ครอบคลุม ให้ภาพที่ชัดเจนในระดับความสูงและระยะทางที่แตกต่างกันสำหรับการใช้งาน PTH (Plated Through Hole) การใช้งาน ระบบนี้สามารถใช้งานได้อย่างกว้า...